鍍層測厚儀優(yōu)點： 
 
　　1. 測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
　　2. 精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上**能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高；
　　3. 穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品；
　　4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法
　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。  
　　隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的測厚儀器。

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